XSR Reflection/Backscatter Probes

反射/後方散乱プローブは、固体、溶液、および粉末などの様々なサンプルから拡散および鏡面反射率、後方散乱、または蛍光を測定するためのコンパクトで汎用性の高いサンプリングオプションです。反射と後方散乱の測定により、サンプルの色、外観、および化学組成に関する定量的な情報を得ることができます。

 

概要

 

XSRファイバ減衰カーブ

 

XSRタイププレミアムグレード反射/後方散乱プローブラインナップ

型番 波長範囲 ファイバコア径 クラッド外径 バッファ材 主要バッファ外径 最大外径 ジャケット プローブファイババンドル ブレイクアウト プローブフェルール径 プローブフェルール長 プローブフェルール材質 長期曲げ半径 短期曲げ半径
QR230-7-XSR 180 - 800 nm 230 μm ± 12 μm 250 μm ± 13 μm アルミニウム
ポリマー
300 μm 380 μm ± 20 μm ステンレススチールBX 1本の読取用ファイバの周りに6本の照明用ファイバ 分岐前1m - 分岐後1m x 2 6.35 mm (1/4インチ) 76.2 mm ステンレススチール 4 cm 2 cm
QR450-7-XSR 180 - 800 nm 450 μm ± 22 μm 500 μm ± 25 μm アルミニウム
ナイロン
シリコン
580 μm 1300 μm ± 100 μm ステンレススチールBX 1本の読取用ファイバの周りに6本の照明用ファイバ 分岐前1m - 分岐後1m x 2 6.35 mm (1/4インチ) 76.2 mm ステンレススチール 8 cm 4 cm

 

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